Journal of Micro-Nanopatterning Materials and Metrology-JM3
- 刊名
- Journal of Micro-Nanopatterning Materials and Metrology-JM3
- ISSN
- 1932-5150
- EISSN
- 2708-8340
- 出版机构
- SPIE-SOC PHOTO-OPTICAL INSTRUMENTATION ENGINEERS
- 语种
- English
- 数据库
-
Web of Science (SCIE)
大类学科
| 英文名 | 中文名 | 新锐分区 | Top |
|---|---|---|---|
| Physics and Astronomy | 物理与天体物理 | 3 区 | — |
小类学科
| 英文名 | 中文名 | 新锐分区 |
|---|---|---|
| ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | 工程：电子与电气 | 4 区 |
| NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY | 纳米科技 | 4 区 |
| MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY | 材料科学：综合 | 4 区 |
| OPTICS | 光学 | 4 区 |